触发式测头和扫描式测头区别在哪?哪个好?

测头根据在使用方法所发挥的不同作用可分为触发式、扫描式、非接触式三种，它是坐标测量机的关键部件，需要的测量精度的高低取决于测量机测头精度的高低。触发式测头和扫描式测头类似，那区别在哪?哪个好?

触发式测头是测针上的触头在任意方向上与工件表面接触，使测针产生微小的摆动，印发测头产生声光信号，指明其工作状态。

扫描式测量是测头测尖与工件接触，沿工件表面移动，提供连续的偏移量输出，与机器位置相结合后，获得表面位置数据。

触发式测头和扫描式测头区别：

　　一、单点触发采点方式不同

触发式测头的采点是在测头触发时发生的。扫描式测头在进行单点触发采点时，采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束后，测针离开工件表面时发生的。

在单点式采点方式上，由于扫描测头是测针碰到工件，会短暂粘滞在工件表面，之后缓慢回退离开工件表面，与接触式测头测量“一触即退”有较大不同，因此触发式测头在测量效率上高于扫描测头。

　　二、测量任务的特点不同

如果只测尺寸、位置要素的情况下，又考虑成本满足要求的时候，触发式测头采集表面离散点是更好的选择。

扫描测量系统可获取大量表面数据，提供更为详细的工件详细信息，是属于一种从规则型面工件或复杂工件上高速采集形状或轮廓数据的方法，因此如果特征形状时整体误差预算的重要考虑因素，必须对复杂表面预测，那么扫描测量是理想之选。

扫描测量比触发测量更为复杂，在离散点的测量上较触发式测头更慢，且高速测量中的动态误差较大，磨损较高。

汉测触发式无线电测头和红外线测头传输范围≤10M;具有传输速度快、传输距离远，适合大型机床，且高精度<=1μm的特点。

触发式测头和扫描式测头区别主要在单点触发采点方式和测量任务特点的不同两方面上，哪个好?在不同的设备使用，对工件测量不同指标要求上，两种测量方式各有优劣。